X射线荧光光谱法测定粗银中九种元素

摘要

应用波长扫描X射线荧光光谱仪对粗银中Ag、Au、Cu、Se、Te、Sb、Pb、Pd、Bi九种元素进行测定.运用空白试样系数校正法对各元素的谱线重叠进行校正,理论系数与经验系数相结合对样品基体效应进行校正,有效克服了各元素谱线的背景干扰与基体效应.精密度试验和比对试验表明:该方法分析检测值与化学法检测值相吻合；分析相对标准偏差为0.24％～13.64％,对比分析相对误差为0～13.93％；本方法简单、快速、准确.