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周永明; 许进亮; 王淑炜; 王真真; 张洪彬;
北京航天发射技术研究所;
北京 100076;
北京宇航系统工程研究所;
提高; 国产ADC; 采样精度; 递推平均滤波; 最小二乘估计;
机译:一种提高单端采样数据和基于集总参数模型的故障定位器定位精度的通用方法
机译:开发一种提高测量系统分析精度和精度的方法:一种模糊方法
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机译:通过在Flash ADC中进行过采样来提高ADC精度
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