一种可重配置的存储器测试控制器设计

摘要

存储器在SOC中所占的电路面积越来越大,因此存储器的正确与否影响着SOC芯片的成品率.存储器中的故障种类繁多,单一的测试方法不能保证所有故障的100%覆盖率.文章通过对广泛应用的March算法的分析,提出了一种可重配置的存储器测试方法.在该方法中通过设置一组控制寄存器就可以灵活地实现各种March算法.另外,采用资源复用的方法,在嵌入式微处理器核中增加了一个有限状态机、几个控制寄存器和几条专门用于存储器测试的指令,可以方便地实现各种March算法,并且硬件开销非常小.