电环形谐振腔表面几何参数对太赫兹超材料吸收体性能的影响（英文）

摘要

本文分析了电环形谐振腔的几何参数对超材料吸收体吸收率的影响。文中详细分析了电环形谐振腔参数、介电层(间隔物)厚度和电环形谐振腔厚度对超材料吸收体的影响,在此基础上,设置正交实验分析了几种参数的综合影响,最终获得超材料的理论吸收率。根据上述结果,制备了2个超材料吸收体的原理样机,经实验测得,原理样机的窄带吸收率高于98%。本文的研究成果为高性能吸收器的设计提供了指导。