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同步辐射X射线荧光分析中和峰的测量与计算

         

摘要

同步辐射X射线荧光(SR-XRF)谱中出现的和峰对XRF分析有严重的干扰.本文通过峰的位置、强度及其随元素特征峰的变化来识别和峰.测量了8种样品中的Ti、Mn、Fe、Co、Ni、Zn、Ga和As的和峰,计算了探测系统响应时间为5-50μs,计数率在10s-105范围内和峰强度概率.理论结果与实验值符合较好,最大偏差在30%以下,误差主要来源于和峰强度的准确测量上.

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