一种鲁棒的非均匀光场中SD卡形态识别算法

摘要

为解决SD卡阵列图像光照不均匀的问题,提出了一种基于明场暗场区域分析的自适应阈值分割算法.算法首先通过改进大津法对SD卡灰度图像进行初次阈值分割,然后利用改进模板匹配算法完成定位,最终依据定位结果完成第2次阈值分割.为解决SD卡姿态多变的问题,提出了一种基于多特征融合的形态识别算法,完成对变化姿态目标的形态识别.试验结果表明,SD卡形态识别准确率大于99.9%,工作节拍小于300ms.算法具备良好的鲁棒性,能够满足工业现场要求.