重视对脉络膜厚度及结构的研究

摘要

近年来,随着频域相干光断层深度增强成像（EDI SD-OCT）技术的出现,临床及科研工作者可更好地观察脉络膜断层结构并定点测量脉络膜的厚度。目前关于EDI SD-OCT的研究主要集中在探讨脉络膜厚度及其影响因素方面。作为非侵入性检查手段,该技术还可用于观察脉络膜病变的断层结构特征,测量脉络膜血管的直径,分析疾病的发病机制,鉴别诊断多种眼底病,随访药物或手术的治疗效果,具有较大的科研价值及广阔的应用前景。