大豆生长及叶绿素荧光特性对铝胁迫的反应

摘要

采用溶液培养方法,设置了不同的铝处理浓度和处理时间,对铝毒胁迫下的两个大豆品种(浙春2号、浙春3号)的根系生长和叶片的叶绿素荧光进行了研究.结果表明:铝抑制了大豆的根系干重、根系总长度、根系体积的增加.在高浓度铝处理下,根系生长7 d后就受到了明显抑制.对茎叶干重的影响在铝处理14 d后才得到表现,茎叶部出现铝毒症状滞后于根部.根尖的根系活力在10 mg/L的铝浓度下有所增加,增强了根系吸收水分和矿质元素的能力.根系质膜透性随着铝处理浓度的增加而增大,在90 mg/L的铝处理下达到最大,植株受到严重伤害.低铝(10 mg/L)使大豆叶片的叶绿素含量少量增加,高铝(90 mg/L)胁迫叶绿索含量降低,且叶绿素a下降的幅度大于叶绿素b.荧光参数的研究表明,随着铝胁迫的增加,Fo增大,Fm、Fv/Fm下降,植株抵抗逆境的能力下降,光合电子传递减小,最终导致光合速率下降.两个大豆品种具有基因型差异,浙春2号比浙春3号更耐铝胁迫.