面向功耗优化的伪随机测试矢量生成

摘要

随着集成电路设计复杂度和工艺复杂度的提高,集成电路的测试面临越来越多的挑战,内建自测试作为一种新的可测性设计方法,能显著提高电路中随机逻辑的可测性,解决一系列测试难题,但它同时也引起了测试功耗问题.本文提出了一种面向功耗优化的伪随机测试向量生成方法,在保证故障覆盖率的条件下,大大降低了测试功耗.