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一种可改善稳压器闩锁效应的过流保护电路

         

摘要

分析了两种过流保护方法的功能及优缺点,研究并提出了一种可应用于集成稳压器中改善闩锁效应的foldback过流保护电路.通过在一般foldback电路中增加限流功能改变曲线的斜率,避免与负载曲线相交,从而解决稳压器的闩锁问题.在0.6 μm标准CMOS工艺下,Hspice仿真证明了该电路的可行性和可靠性.

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