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石英晶体微天平在聚合物薄膜研究中的应用与展望

         

摘要

石英晶体微天平仪(QCM)具有高度的灵敏性,能够对石英晶片表面微痕量物质的变化产生响应,在分析科学研究中广泛应用.本文阐述了QCM的基本工作原理和应用基础方程,并在此基础上综述了近年来QCM在聚合物薄膜研究中的应用及研究进展,包括QCM对聚合物薄膜的厚度和力学性能的测量、QCM研究聚合物分子链在石英晶片表面的吸附过程和链构象变化、表面引发生长聚合物刷的动力学过程、基于功能聚合物薄膜和QCM的生物与化学传感器等,同时对QCM在聚合物薄膜研究领域的进一步深入应用进行了展望.

著录项

  • 来源
    《分析化学》 |2010年第5期|752-759|共8页
  • 作者单位

    高分子合成与功能构造教育部重点实验室,浙江大学高分子科学与工程学系,杭州,310027;

    高分子合成与功能构造教育部重点实验室,浙江大学高分子科学与工程学系,杭州,310027;

    高分子合成与功能构造教育部重点实验室,浙江大学高分子科学与工程学系,杭州,310027;

    高分子合成与功能构造教育部重点实验室,浙江大学高分子科学与工程学系,杭州,310027;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

    聚合物薄膜; 石英晶体微天平; 评述;

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