温度应力和电应力作用下多层陶瓷电容器(MLCC)可靠性研究

摘要

该文介绍多层陶瓷电容(MLCC)的基本结构,运用高温存储试验和高温工作试验,模拟实际使用过程中的高温应力和电应力的作用,研究不同规格MLCC性能退化情况及失效原因分析。