MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案

宋子凯

首页> 中文期刊> 《中国集成电路》 >MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案

MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

当前,集成电路的生产趋向不仅单位面积的集成度一再提高,器件封装更向空间发展.主要的存储器生产厂都将采用多芯片封装(MCP)形式作为未来存储器件封装的重点发展方向之一.本文着重阐述针对越来越大的多芯片封装存储器大规模量产测试需要,作为占据测试领域领先地位的爱德万测试ADVANTEST所提供的,涵盖从设计端到最终成品测试整个产品链的业界最尖端的完整解决方案.

著录项

来源
《中国集成电路》 |2005年第3期|51-54|共4页
作者
宋子凯;
展开▼
作者单位

爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司ATE-SE部;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
量产; 大规模; 重点发展; 存储器生产; 产品链; 解决方案; 领先地位; 测试; 存储器件; 尖端;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方案——最新的第三代分析软件和拥有BGA内插器的强大探测技术,提供了完善的物理层和数字测试方案 [J] . . 国外电子测量技术 . 2009,第7期
2. 基于40nm超大规模SoC芯片存储器测试电路设计与实现 [J] . 陈冬明 ,成建兵 ,蔡志匡 . 电子器件 . 2017,第004期
3. 泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方案 [J] . . 微计算机信息 . 2009,第24期
4. 爱德万测试发布全新低成本高速存储器测试解决方案T5851测试系统 [J] . . 中国集成电路 . 2016,第9期
5. OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案实现高性能，低测试成本以及快速量产上市 [J] . . 计算机测量与控制 . 2007,第12期
6. 基于DDR2和FPGA的大规模转置存储器设计与实现 [C] . 徐艺 ,王桥 ,马敏耀 . 2017年贵州省计算机学会年会 . 2017
7. 大规模存储器的高速并行测试解决方案 [A] . 宋子凯 . 2007

MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅