首页> 中文期刊> 《自动化应用》 >基于PLC控制的最小二乘法的平面度测量系统设计

基于PLC控制的最小二乘法的平面度测量系统设计

         

摘要

利用最小二乘法原理设计基于PLC控制的平面度测量系统.该测量系统完全基于PLC进行控制和运算,能实时在线检测工件平面度,分辨合格与不合格品,且在测量时无须接触工件,实现快速、高效的自动化生产.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号