模数转换器辐照效应测试系统研制

摘要

本工作研制基于柱形图分析法的模数转换器辐照效应测试系统.详细描述了系统的测试原理、系统组成、系统控制流程及系统实现的功能.利用该系统在60Co源上对商用12位AD574AJD芯片进行了总剂量效应试验.结果表明,系统所测的ADC器件的静态参数及功能参数能正确反映器件的效应损伤情况,是一良好的ADC器件辐照效应测试平台.