基于统计分析的PCB组装缺陷特征学习方法

摘要

为了减少自动光学检测系统对用户经验的依赖,提出了一种基于统计分析的PCB组装缺陷特征学习方法.该方法通过对良品和不良品样本图像的统计学习优选出分类能力强的特征,再采用最小风险贝叶斯决策得到特征分类参数.实验结果表明,该算法有效地简化了用户检测程序的编程和调试,提高了AOI的使用效率和准确率.