单Y型集成光学芯片的性能和集成光学陀螺关键技术研究

摘要

详细阐述了工程化多功能集成光学单Ｙ芯片的物理特性及对集成光学陀螺性能的影响。在陀螺相位检测过程中着重分析单Ｙ器件的背反射量对陀螺输出信号畸变的影响，由此建立的数学模型能很好地说明实验结果。