纳米粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变的同时测定

刘建路; 张其春; 林金辉

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纳米粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变的同时测定

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本文使用积分宽度法同时确定了纳米CeO2粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变率,讨论了使用X射线衍射数据同时计算纳米粒子的平均晶粒尺寸和晶格畸变的方法,以及应用Gaussian/Cauchy型方程进行数据处理的具体细节.研究结果说明,当计算纳米微晶的晶格畸变时,现有的一些简单计算方法可能使计算出来的晶格畸变值严重失实.

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来源
《现代技术陶瓷》 |2002年第1期|34-38|共5页
作者
刘建路; 张其春; 林金辉;
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作者单位

成都理工大学应用化学系,成都,610059;

成都理工大学应用化学系,成都,610059;

成都理工大学材料科学与工程系,成都,610059;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类硅酸盐工业;
关键词
纳米粒子平均晶粒尺寸晶格畸变 X-射线衍射积分宽度法;

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