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陈开茅; 金泗轩; 武兰青; 曾树荣; 刘鸿飞;
不详;
硅; MOS系统; 界面态; 深能级; 金;
机译:Al / SiO2 / p-Si MOS结构中界面态与串联电阻的频率和电压依赖性
机译:SiO2 / Polysilicon和SiO2 / Monosiliconcon的界面态对N-Polysilicon / Oxide / N-Monosiliconcon电容的影响
机译:SiO2 / Si和Si3N4 / SiO2 / Si纳米界面的折射率和界面态的实验和计算研究
机译:多晶硅和SiO2薄膜的非Prestonian RRs和残余应力对各种类型的SiO2和Si 3N4薄膜的RRs的影响。
机译:解开介孔SiO2中的界面相互作用用于光催化活性的中孔SiO2中的介孔SiO 2中镍硅酸盐/ TiO2核壳纳米结构
机译:Si / SiO2中间能隙界面态与p型硅中的硅氧超晶格相关的深能级之间的比较
机译:硅氧化研究:siO2和si-siO2界面物理和化学中薄膜二氧化硅形成的最新研究综述
机译:SIO2 / SIC结构中界面态的氮钝化
机译:sio2 / sic结构中界面态的氮钝化
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