浮栅ROM器件的辐射效应实验研究

摘要

浮栅ROM器件的质子和中子辐射效应实验结果表明,其31.9MeV质子和14MeV中子的辐射效应不是单粒子效应,而是一种总剂量效应.浮栅ROM器件的60Coγ辐照实验验证了这一点.器件出现错误有个注量或剂量阈值.动态监测和静态加电的器件都出现数据错误,且不能用编程器重新写入数据.然而不加电的器件在更高注量的质子或中子或更高剂量的γ辐照下未出现错误.器件刚开始出错时,错误数及错误地址都是不确定的.