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表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实蜒

         

摘要

由薄膜表面光热形变简化理论和表面热透镜衍射理论导出表面热透镜信号表达式,从理论上证明了表面热透镜信号和薄膜吸收率的线性关系.应用表面热透镜技术研制了薄膜吸收测量仪,测量结果表明其吸收率测量灵敏度和精度均达10-6量级.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2005年第12期|5774-5777|共4页
  • 作者单位

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;

    中国科学院研究生院,北京,100039;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 物理学;
  • 关键词

    吸收测量; 表面热透镜; 光热形变; 薄膜;

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