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机译:双互锁逻辑:针对单事件逻辑错误的辐射加固设计技术
Maharrey, Jeffrey A.;
Vanderbilt University;
机译:CMOS逻辑中的单事件软错误
机译:改进可纠正逻辑设计错误数量的逻辑诊断技术
机译:缓解组合逻辑中软错误影响的电路优化技术
机译:单事件瞬变引起的逻辑电路错误的详细表征
机译:用于建模和缓解纳米级静态CMOS逻辑电路中软错误的有效技术
机译:缓解SiGe-HBT电流模式逻辑电路中的单事件效应
机译:高速mOs电流模式逻辑的单粒子镦粗硬化技术
机译:用于单事件瞬态缓解的双锁模逻辑。
机译:使用错误注入逻辑和非易失性内存的错误注入评估错误检测和纠正技术
机译:错误注入,用于使用错误注入逻辑和非易失性存储器评估错误检测和纠正技术
机译:用于检测静态耦合CMOS逻辑中的软错误的系统技术
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