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【24h】

High -precision correlation of fundamental material parameters for bulk indium gallium arsenide on indium phosphide and indium gallium arsenide HEMT structures using photoluminescence, x-ray diffraction, photoreflectance, and Raman spectroscopy

机译:使用光致发光,x射线衍射,光反射和拉曼光谱法,对磷化铟和砷化铟镓HEMT结构上的块状砷化铟镓的基本材料参数进行高精度关联

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著录项

  • 作者

    Estrera, Joseph Paul;

  • 作者单位

    The University of Texas at Dallas;

  • 授予单位 The University of Texas at Dallas;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 1992
  • 页码 242 p.
  • 总页数 242
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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