City University of New York;
机译:光谱椭偏仪,光谱反射仪和光谱成像反射仪对厚度不均匀的SiO_xC_yH_z薄膜的光学表征
机译:ZrO2非均质薄膜的椭圆偏振光谱和反射光谱光学表征
机译:光谱椭偏和光谱反射法结合研究的含SiO_x类金刚石碳膜的光学性能
机译:X射线反射仪和光谱椭圆仪的结合使用可表征薄膜的光学性能
机译:光谱椭偏仪作为薄膜中光学,电学和结构特性的多功能,非接触式探针:在光伏中的应用
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:错误:“用光谱椭圆形测定法研究的无定形和结晶SB掺杂SnO2薄膜的光学性质:光学间隙能量和有效质量”J。苹果。物理。 118,085303(2015)
机译:光谱椭偏法测定有机薄膜的光学性质。