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【24h】

Dead time and count loss determination for radiation detection systems in high count rate applications

机译:高计数率应用中辐射检测系统的死区时间和计数损失确定

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著录项

  • 作者

    Patil, Amol;

  • 作者单位

    Missouri University of Science and Technology;

  • 授予单位 Missouri University of Science and Technology;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2010
  • 页码 79 p.
  • 总页数 79
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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