University of California San Diego;
机译:薄硅带装置,用于透射电子显微镜中的直接电子检测
机译:用于透射电子显微镜的直接检测设备成像相机的特性
机译:直接检测装置在透射电子显微镜中的应用。
机译:多方向扫描透射电子显微镜对穿线混合位错的三维位错分析
机译:III-V型化合物半导体材料表征的各种光电子器件的微结构和纳米结构的分析透射电子显微镜和高分辨率电子显微镜。
机译:直接检测设备成像相机的透射电子显微镜的表征
机译:用于透射电子显微镜的直接检测设备成像照相机的特性。