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Hierarchical process variability analysis for analog circuits and its application to test development, fault diagnosis, yield estimation, and design synthesis

机译:模拟电路的分层过程可变性分析及其在测试开发,故障诊断,成品率估计和设计综合中的应用

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著录项

  • 作者

    Liu, Fang;

  • 作者单位

    Duke University;

  • 授予单位 Duke University;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2007
  • 页码 211 p.
  • 总页数 211
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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