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【24h】

Development of Drop/Shock Test in Microelectronics and Impact Dynamic Analysis for Uniform Board Response.

机译:开发了微电子学中的跌落/冲击测试以及用于统一板响应的冲击动力学分析。

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  • 作者单位

    Lamar University - Beaumont.;

  • 授予单位 Lamar University - Beaumont.;
  • 学科 Mechanical engineering.;Engineering.;Aerospace engineering.
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2016
  • 页码 384 p.
  • 总页数 384
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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