The University of Saskatchewan (Canada).;
机译:负反馈效应对SiGe HBT模拟电路中单事件瞬态的作用
机译:OTA-C模拟结构中的单事件瞬态:一个案例研究
机译:脉冲淬火基于28 nm批量CMOS过程的模拟单事件瞬态缓解模拟单事件瞬态缓解的辐射硬化
机译:电介质降解和分解在MOSFET特性的影响。对数字和模拟电路的影响。
机译:绝缘体上硅CMOS技术中对模拟集成电路的单事件影响的分析和表征。
机译:GLP1类似物和SGLT2抑制剂对2型糖尿病大鼠糖尿病性心肌病影响的比较研究:可能的潜在机制
机译:批量偏见作为模拟单事件瞬态缓解技术,损失可忽略不计