The University of Toledo.;
机译:过复位能量引起的自互补电阻开关对基于氧化oxide的电阻型随机存取存储器的存储可靠性的影响
机译:使用三氧化钼(MOO3)作为开关层的电阻随机存取存储器(RERAM)器件的制造与表征
机译:钛基电极对射频溅射氧化硅电阻随机存取存储器的电阻开关行为的表征
机译:基于氧化ha的电阻式随机存取存储器的紧凑模型
机译:离子辐照对基于氧化oxide的电阻式随机存取存储设备的影响。
机译:导电丝的演变及其对基于氧化物电解质的电阻式随机存取存储器中可靠性问题的影响
机译:对氧化铪基电阻随机存取存储器的重离子辐射效应
机译:原子层沉积(aLD) - 沉积二氧化钛(TiO2)厚度对Zr40Cu35al15Ni10(ZCaN)/ TiO2 /铟(In)基电阻随机存取存储器(RRam)结构性能的影响。