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第1章绪论
1.1课题背景
1.2 CMP技术出现的历史背景及国内外发展概况
1.3 CMP技术设备的发展趋势和存在问题
1.3.1 CMP技术设备
1.3.2 CMP技术设备的现状
1.4硅片抛光磨料的抛光机理
1.4.1SiO2磨料化学机械抛光机理
1.4.2磨料CeO2粒子的化学机械抛光机理
1.5本论文选题意义及研究内容
第2章硅片CMP的抛光原理及测试方法
2.1硅片表面的抛光技术分类
2.1.1硅片表面的机械抛光
2.1.2硅片表面的化学抛光
2.1.3硅片表面的化学机械抛光
2.2硅片表面的CMP抛光原理
2.2.1硅片表面CMP的动力学过程分析
2.2.2硅片CMP的去除速率
2.3硅片CMP的表征技术及测试方法
2.3.1表面尺寸的测量
2.3.2表面应力状态
2.3.3表面微观化学成分
2.4本章小结
第3章普通沉淀法制备纳米CeO2磨料及原理
3.1实验过程
3.1.1纳米CeO2磨料的制备
3.1.2样品的表征
3.2结果与讨论
3.2.1产物的物相结构分析
3.2.2 pH值对纳米CeO2磨料粒子形貌的影响
3.2.3铈盐溶液浓度的影响
3.2.4 SO42-的加入在纳米CeO2磨料制备过程中的作用
3.2.5不同溶剂的影响
3.2.6加料速度和加料方式对粒子形貌的影响
3.2.7焙烧温度对磨料粉末颗粒度及晶格畸变度的影响
3.3产物的热分析结果
3.4本章小结
第4章均相沉淀法制备超微CeO2磨料及原理
4.1引言
4.2以尿素为沉淀剂制备磨料CeO2
4.2.1制备过程
4.2.2表征
4.2.3结果与讨论
4.2.4尿素法制备超细CeO2前驱体粉体的原理
4.2.5表面活性剂对前驱体形貌的影响
4.3以草酸二甲酯(DMO)为沉淀剂制备不同形貌的CeO2磨料
4.3.1超微CeO2磨料的制备过程
4.3.2表征方法
4.3.3结果与讨论
4.4本章小结
第5章硅片CMP抛光液及其表面性质分析
5.1抛光液简介
5.2 CMP抛光液的配制技术
5.3抛光液的成分及作用
5.3.1酸性抛光液
5.3.2碱性抛光液
5.4硅片CMP抛光液的性能评价
5.4.1抛光液悬浮性的表征——浊度
5.4.2抛光液分散性的表征——吸光度
5.4.3抛光液分散稳定性的表征——Zeta电位
5.4.4抛光液润湿性的表征——接触角
5.4.5抛光液pH值的确定
5.5以H2O2为氧化剂的硅片CMP抛光液
5.6加入腐蚀抑制剂(抗蚀剂)的硅片CMP抛光液
5.7硅片表面状态的研究
5.7.1水合作用
5.7.2硅片表面的吸附状态
5.8本章小结
第6章CMP稀土抛光液的研制及其抛光效果研究
6.1实验部分
6.1.1抛光液的制备及表征
6.2结果和讨论
6.2.1抛光磨料的选择
6.2.2磨料形貌的选择
6.2.3抛光液的浓度对抛光速率的影响
6.2.4抛光液的配制及抛光效果的实验分析
6.3本章小结
总结与展望
参考文献
攻读博士学位期间取得的研究成果
致谢