声明
摘要
第1章 绪论
1.1 关联电子氧化物中的金属绝缘体转变
1.2 金属绝缘体转变的基本机制
1.2.1 能带理论
1.2.2 Mott转变
1.2.3 Anderson转变
1.3 钙钛矿稀土镍酸盐ReNiO3
1.3.1 ReNiO3陶瓷、薄膜的制备及其中的氧空位
1.3.2 晶体结构与MI转变
1.3.3 压力与外延应变的作用
1.3.4 电场调控ReNiO3的MI转变
1.3.5 ReNiO3中MI转变的机制
1.4 本论文的研究内容及方法
参考文献
第2章 生长氧压与温度对Sm0.6Nd0.4NiO3/LaAlO3外延薄膜MI转变的影响
2.1 Sm0.6Nd0.4NiO3/LaAlO3外延薄膜的制备
2.1.1 脉冲激光沉积(PLD)
2.1.2 靶材制备与衬底选择
2.1.3 PLD制备Sm0.6Nd0.4NiO3薄膜
2.2 Sm0.6Nd0.4NiO3/LaAlO3外延薄膜的表征
2.2.1 表面形貌的原子力显微镜表征
2.2.2 薄膜结构的X射线衍射表征
2.2.3 薄膜的电学性能表征
2.3 生长氧压对Sm0.6Nd0.4NiO3-δ外延薄膜MI转变的影响
2.3.1 背景介绍
2.3.2 实验结果与讨论
2.4 衬底温度对Sm0.6Nd0.4NiO3-δ外延薄膜MI转变的影响
2.4.1 背景介绍
2.4.2 实验结果与讨论
本章小结
参考文献
第3章 电流调控Sm0.6Nd0.4NiO3/LaAlO3外延薄膜的MI转变
3.1 Sm0.6Nd0.4NiO3/LaAlO3薄膜的基本性质
3.1.1 同步辐射高分辨XRD结构表征
3.1.2 表面形貌
3.1.3 ρ-T曲线
3.2 DC电流对薄膜MI转变的调控
3.2.1 不同电流下的R-T曲线
3.2.2 薄膜的非线性I-V关系
3.2.3 MI转变相图
本章小结
参考文献
第4章 Sm0.6Nd0.4NiO3/LaAlO3外延薄膜中NiO6八面体在MI转变附近的结构变化
4.1 氧八面体旋转与半指数衍射峰
4.1.1 钙钛矿氧化物材料中的八面体旋转
4.1.2 半指数衍射峰表征八面体旋转
4.2 原位变温XRD
4.2.1 实验装置
4.2.2 测试方法
4.3 结果与讨论
4.3.1 MI转变温度附近NiO6八面体的结构变化
4.3.2 低温下施加DC电流时薄膜的半指数衍射峰
本章小结
参考文献
第5章 结论与展望
5.1 论文内容总结
5.2 本论文创新点
5.3 氧八面体旋转在钙钛矿体系薄膜中的研究展望
5.3.1 氧八面体旋转与MI转变的定量分析
5.3.2 反常散射测量Ni3+δ-O2--Ni3-δ电荷序
5.3.3 氧八面体旋转的应变调控:面内各向异性应变与实时应变调控
参考文献
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果
致谢