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应迪;
浙江大学;
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机译:基于物理模型来预测FinFET的性能下降,并考虑到由于热载流子注入引起的界面状态分布效应
机译:从器件到系统的观点,研究现代场效应晶体管中自加热增强的热载流子性能:主题综述
机译:高压功率器件中柯克效应引起的热载流子注入的研究
机译:氢/氘同位素效应在提高MOS器件的热载流子可靠性方面的基础和应用。
机译:近场热光电器件中的高注入效应
机译:制造先进纳米器件工艺测量技术研究
机译:针对在Xilinx-Virtex系列现场可编程门阵列(FpGa)器件中实现的复杂设计的单事件分析和故障注入技术。
机译:用于统计评估的热载流子注入测试结构和测试技术
机译:具有降低的热载流子注入效应的晶体管器件
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