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光腔衰荡应力双折射测量技术研究

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目录

第一章 绪 论

1.1 研究的背景和意义

1.2 光学元件应力无损检测

1.3 偏振光腔衰荡法研究现状

1.4 本论文的主要研究内容

第二章 双折射光腔衰荡理论

2.1 光弹效应

2.2 双折射谐振腔响应

2.3 本章小节

第三章 光学元件应力双折射和损耗同时测量

3.1 应力双折射和光学损耗

3.2 测量系统设计

3.3 损耗和应力双折射扫描

3.4 本章小节

第四章 光学元件双折射和损耗测量系统优化

4.1 系统优化设计

4.2 高精度损耗和反射率测量和结果验证

4.3 本章小节

第五章 高反射镜残余应力双折射测量

5.1 反射镜双折射

5.2 高反射镜残余应力双折射

5.3 本章小节

第六章 总结和展望

6.1 研究总结

6.2 工作展望

致谢

参考文献

攻读博士学位期间取得的成果

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著录项

  • 作者

    肖石磊;

  • 作者单位

    电子科技大学;

  • 授予单位 电子科技大学;
  • 学科 光学工程
  • 授予学位 博士
  • 导师姓名 李斌成;
  • 年度 2020
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN2O4;
  • 关键词

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