声明
1 绪论
1.1 胶体量子点概述
1.1.1 胶体量子点的定义与发展
1.1.2 胶体量子点的光学特性
1.2 胶体量子点的光谱学研究
1.2.1 单量子点光谱学的起源
1.2.2 单量子点的远场光谱学
1.2.3 单量子点的近场光谱学
1.3 本论文选题和结构安排
1.3.1 选题思路
1.3.2 结构安排
2 样品与实验装置
2.1 量子点样品
2.2 激光光源
2.3 自制的光学显微装置
2.3.1 倒置显微镜
2.3.2 宽场显微
2.3.3 共聚焦显微
2.3.4 暗场显微镜
2.3.5 荧光信号探测系统
2.4 时间标记-时间分辨的单光子探测
2.5 光子二阶互相关计数测量
2.5.1 光子计数统计
2.5.2 单光子源的检测
3 裸露在空气中的量子点样品制备与单颗粒谱学测量
3.1 玻璃盖玻片的清洁
3.1.1 未清洁玻片的洁净度表征
3.1.2 清洁玻片的洁净度表征
3.2 溶剂（甲苯）的蒸馏和除水
3.2.1 溶剂（甲苯）的蒸馏
3.2.2 蒸馏甲苯的除水处理
3.3 量子点-甲苯溶液样品的制备
3.3.1 样品制备原则
3.3.2 样品制备流程
3.3.3 量子点样品的密度分布
3.4 单颗粒量子点光谱学研究
3.4.1 荧光闪烁机理
3.4.2 单个量子点的荧光强度时序图的测量方法
3.4.3 单颗粒量子点稳定性能的研究
4 超薄有机膜中量子点样品制备与单颗粒光谱学性质
4.1 超薄PMMA膜的制备
4.1.1 PMMA材料的简介
4.1.2 PMMA-甲苯薄膜层溶液的配制
4.1.3 PMMA-甲苯薄膜层厚度的表征
4.2 镶嵌在超薄PMMA膜中量子点样品的制备与光谱学性质
4.2.1 量子点-超薄PMMA膜样品的制备
4.2.2 量子点-超薄PMMA膜样品的光谱学性能
4.3 超薄Zeonex膜的制备
4.3.1 Zeonex材料的简介
4.3.2 Zeonex-甲苯薄膜层的制备
4.3.3 Zeonex-甲苯薄膜层厚度的表征
4.4 镶嵌在超薄Zeonex膜中量子点样品的制备与光谱学性质
4.4.1 量子点-超薄Zeonex膜样品的制备
4.4.2 量子点-超薄Zeonex膜样品的平整度信息
4.4.3 量子点-超薄Zeonex膜样品的光谱学性能
4.5 两种薄膜中量子点样品的稳定性能说明
5 表面等离激元与单量子点相互作用近场光谱学测量
5.1 理论背景
5.1.1 表面等离激元的介绍
5.1.2 表面等离激元与量子点相互作用
5.2 球形金纳米颗粒样品的制备、表征和操控
5.2.1 金纳米颗粒样品的制备
5.2.2 金纳米颗粒样品的表征
5.2.3 金纳米颗粒样品的操控
5.3 金纳米颗粒与量子点相互作用及近场光谱学测量
5.3.1 近场光谱学的测量系统
5.3.2 金纳米颗粒对量子点辐射调控的影响
6 总结与展望
6.1 总结
6.2 展望
致谢
参考文献
