第1章 绪 论
1.1 课题背景及研究的目的和意义
1.2光刻对准技术发展现状
1.3 本领域存在的科学问题和关键技术问题
1.4 本文的主要研究内容
第2章 基于光栅标记多衍射级次同步混叠干涉的对准测量方法研究
2.1 引言
2.2经典的基于光栅标记对准测量原理分析
2.3基于多衍射级次同步混叠干涉的光栅标记对准测量方法
2.4 本章小结
第3章 多级次对准测量相位信息提取方法研究
3.1 引言
3.2基于数字锁相放大探测的多级次对准测量相位信息提取方法
3.3多级次对准测量相位信息提取方法中误差建模与分析
3.4 本章小结
第4章 扫描信号强度模板多参数匹配的标记捕获方法
4.1 引言
4.2传统标记捕获测量方法分析
4.3基于扫描信号强度参数拟合模板匹配的标记捕获原理
4.4 幅值受包络曲线调制对准测量结果矫正
4.5 本章小结
第5章 测量系统设计与实验
5.1 引言
5.2基于同步多级次光栅干涉测量的对准测量系统
5.3 测量系统特性测试与实验
5.4 基于多级次同步混叠干涉的光栅标记对准测量实验
5.5 本章小结
结论
参考文献
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果
声明
致谢
个人简历