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第一章超导简介-特征参数、结构和应用
第一节超导体的发现历史
第二节超导的特性和主要特征参数
1.2.1超导体的特性
1.2.2主要特征参数
第三节低温超导体和高温超导体及铜氧化物的晶体特征
1.3.1低温超导体的发展与应用
1.3.2高温超导体的优势
1.3.3高温超导铜氧化物的晶体结构特征
第四节高温超导体的弱电应用及衬底、薄膜的选择
1.4.1高温超导体的弱电应用
1.4.2高温超导薄膜的衬底特性
1.4.3高温超导薄膜的选择和特性
第二章超导体的特性参数测量、薄膜制备和分析
第一节超导体特性参数测量
2.1.1超导体临界温度Tc的测量
2.1.2超导体临界电流密度Jc的测量
2.1.3超导体表面电阻Rs的测量
第二节高温超导薄膜的制备
2.2.1薄膜制备技术的两步法-磁控溅射和铊化过程
2.2.2其他的薄膜制备方式
第三节超导薄膜的分析方式
2.3.1扫描电子显微镜(SEM)
2.3.2透射电子显微镜(TEM)
2.3.3电子能谱仪和等离子体发射光谱
2.3.4薄膜的厚度测量
第三章高温超导缓冲层和薄膜的制备条件探索
第一节制备缓冲层的意义
第二节蓝宝石和MgO上制备缓冲层CeO2的实验条件
3.2.1实验结果的分析方法--X射线衍射θ-2θ扫描
3.2.2实验条件的变化对CeO2缓冲层的影响及结果分析
第三节在MgO和蓝宝石衬底上缓冲制备Tl-2212薄膜的实验
3.3.1实验结果分析方法--X射线衍射ω扫描(摇摆曲线)和ψ扫描
3.3.2 MgO和蓝宝石上以CeO2为缓冲层制备Tl-2212超导薄膜的实验及结果分析
第四章展望
致谢
参考文献
个人简历及学术论文