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第一章 绪论
1.1 课题研究的目的和意义
1.1.1 课题研究的目的
1.1.2 课题研究的意义
1.2 存储器及其测试系统的发展趋势
1.2.1 存储器的分类
1.2.2 存储器的发展
1.2.3 集成电路测试系统的发展
1.3 测试技术的发展趋势与面临的挑战
1.3.1 测试技术的发展趋势
1.3.2 测试技术面临的挑战
1.4 课题的主要工作
1.4.1 工作中面临的问题
1.4.2 课题任务
1.4.3 本论文主要内容
第二章 存储器测试基本原理
2.1 存储器的工作原理
2.1.1 ROM型存储器工作原理
2.1.2 RAM型存储器工作原理
2.2 存储器的故障模式
2.2.1 硬失效
2.2.2 软失效
2.2.3 潜失效
2.2.4 故障模型
2.3 几种故障模式的测试要求
2.4 存储器的测试原理
2.4.1 存储器测试类型
2.4.2 存储器测试的主要方法
2.4.3 存储器的测试算法
2.5 本章小结
第三章 存储器测试的工程实现
3.1 存储器测试程序的实现
3.1.1 测试程序开发的准备工作
3.1.2 测试程序实现的流程图
3.1.3 测试程序的具体实现
3.1.4 测试程序的完成
3.2 存储器测试的硬件实现
3.2.1 硬件的主要问题
3.2.2 硬件设计的主要原理
3.2.3 硬件设计的完成
3.3 测试结果与验证
3.3.1 测试情况
3.3.2 测试验证
3.4 本章小结
第四章 总结
致谢
参考文献
在学期间的研究成果