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摘要
第1章 引言
1.1 课题背景
1.1.1 放射性同位素源
1.1.2 同步辐射源
1.1.3 布拉格衍射单能辐射源
1.1.4 K荧光参考辐射源
1.2 研究意义
1.2.1 为低能辐射剂量仪器仪表提供计量保障
1.2.2 解决低能核辐射探测器量值溯源问题
1.3 国内外研究现状和发展动向
1.4 研究内容
1.4.1 荧光理论分析以及蒙特卡罗MCNP5模拟
1.4.2 装置设计与实验测量
第2章 蒙特卡罗模拟荧光装置
2.1 K荧光辐射源产生原理
2.2 辐射体荧光产额
2.2.1 K荧光产额
2.3 MC程序介绍
2.4 荧光发生装置建立
2.4.1 K荧光初级注量能谱
2.4.2 K荧光散射比
2.4.3 K荧光辐射束半径
2.4.4 K荧光产额随辐射体厚度变化
2.5 辐射体表面荧光分布
2.6 辐射野分布
2.7 荧光纯度模拟
2.7.1 K荧光次级注量能谱
2.7.2 荧光纯度计算
2.8 MC屏蔽箱体设计
第3章 K荧光X射线辐射装置的建立
3.1 K荧光X射线辐射装置
3.1.1 初级辐射源
3.1.2 初级过滤器
3.1.3 初级光阑
3.1.4 次级光阑
3.1.5 荧光辐射体
3.1.6 次级过滤
3.1.7 收集器
3.2 荧光发生装置
3.3 导轨测量系统
3.4 装置监控系统
3.5 电源切换装置及报警系统
3.6 辐射体/次级过滤器制作
3.6.1 颗粒化合物的制作
3.6.2 金属的制作
第4章 荧光能谱的测量与计算
4.1 脉冲高度谱测量装置
4.1.1 屏蔽准直器
4.1.2 多道分析器及谱分析软件
4.1.3 低毹高纯锗探测器
4.2 探测器能量刻度
4.3 探测器效率模拟
4.3.1 探测器CT成像
4.3.2 探测效率MC模拟
4.4 荧光能谱测量
4.5 ROOT双高斯拟合能谱
第5章 荧光辐射技术指标测量
5.1 矩阵电离室定中心点
5.2 Raysafe X2测量
5.2.1 Raysafe X2
5.2.2 辐射束均匀性测量
5.2.3 辐射束半径测量
5.3 GEM探测器测量光斑
5.3.1 GEM探测器结构
5.3.2 GEM探测器测试
5.3.3 GEM测量荧光
5.4 X光机输出对稳定性影响
结论
致谢
参考文献
攻读学位期问取得学术成果