声明
摘要
第1章 引言
1.1 选题背景及意义
1.2 X射线荧光分析国内外研究现状
1.3 课题来源
1.4 算法内容
1.5 论文结构
第2章 EDXRF最小二乘法荧光理论基础
2.1 能量色散X荧光仪工作原理
2.1.1 目标元素定性分析原理
2.1.2 原级谱线与样品相互作用
2.1.3 被测样品对原级谱线靶材特征峰的影响
2.2 目标元素荧光强度定量公式理论基础
2.2.1 目标元素一次荧光理论公式
2.2.2 目标元素二次荧光理论公式
2.2.3 目标元素三次荧光理论公式
2.3 EDXRF最小二乘法荧光理论强度计算方案
第3章 基本参数求解
3.1 原级谱线分布Ψ(E)求解
3.2 激发因子求解
3.2.1 吸收限跃迁因子求解
3.2.2 谱线分数求解
3.2.3 荧光产额求解
3.3 质量吸收系数求解
3.3.1 质量吸收系数概述
3.3.2 单元素光电质量吸收系数计算
3.3.3 单元素康普顿散射吸收计算
3.3.4 混合样品质量吸收系数计算
3.4 仪器几何参数Gi求解
3.4.1 Gi求解原理
3.4.2 单元素标准样品制作
3.4.3 Gi求解结果分析
3.5 高斯标准差参数求解
3.5.1 高斯标准差参数理论求解
3.5.2 高斯标准差参数实际求解
第4章 样品基体确定
4.1 样品确定依据
4.2 基体确认实验
第5章 EDXRF最小二乘法全谱解析
5.1 最小二乘原理
5.2 EDXRF最小二乘法全谱解析矩阵
5.3 EDXRF最小二乘法全谱匹配算法流程
5.4 最小二乘全谱匹配算法收敛性问题
第6章 EDXRF最小二乘法全谱解析结果分析
6.1 最小二乘法全谱解析算法准确性检验
6.2 本文算法与以往无标样算法对比
结论
致谢
参考文献
攻读学位期间取得学术成果
成都理工大学;