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声明
第一章绪论
1.1课题研究的背景
1.2课题的研究现状
1.2.1传统的测试生成方法
1.2.2新兴的测试生成方法
1.3本文的研究重点
1.4本文的创新点及内容安排
第二章内建自测试(BIST)及其测试生成
2.1内建自测试(BIST)
2.1.1内建自测试的基本框架
2.1.2基于LFSR的测试生成
2.1.3基于LFSR的测试响应分析
2.1.4内建自测试的经典结构
2.2混合模式测试生成
2.2.1传统BIST存在的问题
2.2.2混合模式测试技术
2.2.3混合模式测试生成方法
2.3重复播种测试生成
2.3.1重复播种方法的一般结构
2.3.2种子的计算原则
2.4小结
第三章BIST的重复播种测试生成
3.1存储式重复播种
3.1.1多多项式LFSR重复播种方法
3.1.2变长种子LFSR重复播种方法
3.1.3部分动态LFSR重复播种方法
3.2非存储式重复播种
3.2.1 ROMless重复播种方法
3.2.2内建重复播种方法(Built-in Reseeding)
3.3双重压缩重复播种策略
3.3.1传统方法的不足之处
3.3.2双重压缩方法的实现策略
3.4小结
第四章基于双重压缩的重复播种方法
4.1双重压缩的基本思想
4.1.1测试向量的纵向相容性压缩
4.1.2测试向量的横向串接压缩
4.2双重压缩的压缩过程
4.3基于双重压缩的重复播种结构
4.3.1双重压缩的存储式重复播种结构
4.3.2减少操作次数的改进结构
4.3.3双重压缩的非存储式重复播种结构
4.4小结
第五章实验与数据分析
5.1 ISCAS国际标准电路介绍
5.2试验步骤
5.3实验数据及比较
5.4本章小结
第六章总结与展望
6.1论文总结
6.2论文的主要贡献
6.3展望
参考文献
附录Ⅰ作者在攻读硕士学位期间发表的论文
附录Ⅱ作者在攻读硕士学位期间所做项目
附录Ⅲ作者在攻读硕士学位期间申请专利
附录Ⅳ致谢