粉末晶体SRxMG1-xF2(X=0.7,0.9)晶体结构分析与声子计算

目录

摘要

1引言

1．1研究背景

1．2本文的主要研究工作

2基本概念和原理

2．1 X射线衍射

2．2 Rietveld结构精修

2．2．1 Rietveld结构精修的原理

2．2．2 Rietveld结构精修的应用

2．3 MEM解析方法

2．3．1 MEM解析方法的原理

2．3．2 MEM解析方法的应用

2．4密度泛函理论的简介

2．4．2哈特利-福克近似

2．4．3霍恩伯格-科恩定理

2．4．4 Kohn-Sham方程

2．5．1高温烧结法

2．5．2烧结炉的工作原理

2．6同步热分析仪(STA)的基本原理

3样品制备和实验

3．1样品制备

3．2 SrxMg1-xF2粉末晶体的X射线衍射实验

3．2．1 X射线衍射仪简介和功能

3．2．2 X射线实验结果

3．3晶体结构分析

3．3．1 SrxMg1-xF2(x=0．7，0．9)的晶体结构精修

3．3．2 SrxMg1-xF2(x=0．7，x=0．9)的等高电子密度分布

3．4本章总结

4 SrxMg1-xF2粉末晶体的热分析的实验

4．1热分析的实验仪器和条件

4．2热分析实验结果

4．3本章总结

5粉末晶体SrxMg1-xF2的晶格振动

5．1计算方法

5．2计算结果

5．3本章总结

第六章总论

参考文献

致谢

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