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第一章 绪论
1.1 前言
1.2 REBCO超导体的晶体结构
1.3 材料的织构
1.4 REBCO超导体的织构生成
1.4.1 熔融织构
1.4.2 形变织构
1.4.3 外延诱导织构
1.4.4 磁致织构
1.5 REBCO超导体的织构特征
1.5.1 REBCO超导块材的织构
1.5.2 REBCO超导带材的织构
1.6 REBCO超导体织构的测量
1.6.1 X射线衍射法
1.6.2 电子背散射衍射法
1.7 本论文的意义及主要内容
第二章 EBSD取向测试技术原理
2.1 前言
2.2 EBSD技术发展历史
2.3 EBSD技术相关基础
2.3.1 晶体学基础
2.3.2 晶体取向描述
2.4 EBSD系统硬件和SEM
2.5 EBSD测试原理
2.5.1 菊池花样的产生和采集
2.5.2 菊池花样的识别
2.5.3 菊池花样的标定
2.5.4 菊池花样的分析
2.6 EBSD技术的应用
2.7 本章小结
第三章 REBCO超导体EBSD测试实验设置
3.1 前言
3.2 SEM和EBSD实验设备
3.3 EBSD的分辨率
3.3.1 样品倾转角度
3.3.2 工作距离(Work Distance,WD)
3.3.3 相机长度
3.3.4 加速电压
3.3.5 电子束流
3.3.6 倾转修正和动态聚焦补偿
3.3.7 花样的清晰度
3.4 EBSD的菊池花样图像处理
3.4.1 Binning模式选择
3.4.2 背底扣除
3.4.3 花样的平均化处理
3.4.4 菊池带的标识
3.4.5 菊池带的识别数量和识别灵敏度
3.4.6 取向校准
3.5 EBSD的模拟菊池花样
3.5.1 模拟菊池花样在取向标定中的应用
3.5.2 理论衍射面数的选择对取向标定的影响
3.6 EBSD自动取向成像技术
3.6.1 样品点的定位
3.6.2 步长的确定
3.6.3 数据的处理
3.7 REBCO样品的抛光
3.7.1 试样的截取
3.7.2 REBCO试样的无水磨光与抛光
3.7.3 REBCO试样的水性磨光与抛光
3.8 REBCO样品的导电性
3.9 本章小结
第四章 REBCO超导体的EBSD取向测试
4.1 前言
4.2 REBCO超导体的标定晶相
4.3 REBCO超导体菊池花样的伪立方对称性及取向
4.3.1 REBCO超导体菊池花样的伪立方对称性
4.3.2 YBCO超导体c轴取向
4.3.3 YBCO超导体a、b轴取向
4.4 YBCO超导体的EBSD自动取向成像分析
4.4.1 样品制备
4.4.2 X射线衍射结果
4.4.3 利用四方相结构标定
4.4.4 利用正交相结构标定
4.5 本章小结
第五章 YBCO孪晶的EBSD定量分析
5.1 前言
5.2 YBCO超导体的孪晶
5.3 YBCO超导体孪晶的EBSD标定
5.4 YBCO超导体孪晶的EBSD定量分析
5.5 本章小结
第六章 EBSD技术在REBCO超导体织构分析上的应用
6.1 前言
6.2 YBCO银基带熔融生长织构厚膜
6.2.1 实验方法
6.2.2 形貌分析
6.2.3 EBSD分析
6.3 YBCO强磁场熔融织构生长
6.3.1 实验方法
6.3.2 样品特性
6.3.3 EBSD分析
6.4 NBCO区熔生长
6.4.1 实验方法
6.4.2 表面形貌
6.4.3 EBSD分析
6.5 本章小结
第七章 结论
参考文献
攻读博士学位期间的研究成果和发表的论文
致谢
作者简介