首页> 中文学位 >Sn基焊点多次回流界面反应机理及动力学研究
【6h】

Sn基焊点多次回流界面反应机理及动力学研究

代理获取

目录

声明

摘要

主要符号表

1 绪论

1.1三维电子封装技术

1.1.1三维电子封装技术简介

1.1.2三维电子封装技术的发展与挑战

1.2多次回流界面反应

1.2.1 经典界面反应机理概述

1.2.2界面反应的影响因素

1.2.3 多次回流界面反应研究现状及问题

1.3 同步辐射成像技术在界面反应研究中的应用

1.3.1 同步辐射成像技术原理

1.3.2同步辐射成像技术在钎焊界面反应中的应用

1.4本文主要研究思路与内容

2实验材料与方法

2.1实验材料

2.2样品制备

2.3实验设计及方法

2.3.1扫描电镜非原位测试

2.3.2同步辐射原位测试

2.4表征与分析

3不同成分Sn基焊点多次回流界面反应机理

3.1 Sn/Cu焊点多次回流界面反应

3.1.1 多次回流界面IMC生长行为

3.1.2多次回流各阶段界面IMC演变及影响因素

3.1.3多次回流界面IMC生长动力学

3.1.4多次回流界面IMC生长模型

3.2 Sn-xCu/Cu焊点多次回流界面反应

3.2.1焊点中的Cu浓度分布

3.2.2 Cu浓度对多次回流界面IMC形貌的影响

3.2.3 Cu浓度对多次回流界面IMC生长机理及动力学的影响

3.3 Sn-xAg/Cu焊点多次回流界面反应

3.3.1焊点中的Ag存在形式及浓度分布

3.3.2 Ag浓度对多次回流界面IMC形貌影响

3.3.3 Ag浓度对多次回流界面IMC生长机理及动力学影响

3.4 Sn-xTiO2/Cu焊点多次回流界面反应

3.4.2温度对TiO2抑制界面IMC生长效果的影响

3.5本章小结

4工艺参数作用下Sn/Cu焊点多次回流界面反应机理

4.1 回流温度对Sn/Cu界面IMC生长的作用

4.2保温时间及回流次数对Sn/Cu界面IMC生长的作用

4.3冷却速率对Sn/Cu界面IMC生长的作用

4.4本章小结

5含气泡Sn/Cu焊点多次回流界面反应机理

5.1首次回流过程界面气泡的生长演变

5.2多次回流过程界面气泡与IMC的交互生长

5.2.1界面气泡与IMC的生长演变

5.2.2界面气泡与IMC的交互生长机理

5.3本章小结

6不同尺寸Sn基焊点多次回流界面反应机理

6.1 Sn/Cu焊点多次回流的尺寸效应

6.1.1 Sn/Cu焊点尺寸效应现象

6.1.2 Sn/Cu焊点尺寸效应作用机理

6.2 Sn-0.7Cu/Cu焊点多次回流的尺寸效应

6.2.2 Sn-0.7Cu/Cu焊点尺寸效应作用机理

6.3 Sn-3.5Ag/Cu焊点多次回流的尺寸效应

6.3.1 Sn-3.5Ag/Cu焊点尺寸效应现象

6.3.2不同尺寸焊点中的Cu浓度分布

6.3.3 Sn-3.5Ag/Cu焊点尺寸效应作用机理

6.4本章小结

7结论与展望

7.1结论

7.2创新点

7.3展望

参考文献

攻读博士学位期间科研项目及科研成果

致谢

作者简介

展开▼

摘要

电子产品微型化推动封装技术由二维(2D)向三维(3D)发展,而多次回流工艺是3D封装普遍应用的技术。现有研究大都将多次回流简单归结为一次回流焊处理,所获得的多次回流界面反应机制与实际偏差较大。本文应用同步辐射实时成像及高压吹扫技术,分离多次回流钎焊过程各个阶段,并结合相应模拟手段,深入研究钎料合金成分、回流工艺参数、气泡缺陷、焊点尺寸下钎焊液固反应过程界面金属间化合物(IMC)生长机理及动力学,清晰地揭示出各Sn/Cu体系钎焊界面反应过程,并建立多次回流界面IMC生长模型。论文获得主要结论如下:
  1.Sn/Cu焊点多次回流保温阶段,界面IMC生长控制机制逐渐从Cu晶界扩散转变为体扩散,动力学时间指数由1/3趋近1/2;冷却阶段,界面IMC受Cu沉积作用快速生长,动力学时间指数为1;再加热阶段,Cu溶解度改变使界面IMC发生部分溶解,动力学时间指数为1,与冷却阶段互逆;基于此,建立Sn/Cu体系多次回流界面IMC生长物理模型。Sn-xCu/Cu焊点中Cu浓度升高,界面IMC生长速率增大,晶界扩散对界面IMC生长贡献相对减小;Sn-xAg/Cu焊点中,Ag3Sn纳米颗粒吸附在界面IMC晶粒表面,提高晶界扩散对界面IMC生长的贡献,且Ag3Sn尺寸越小、分布越弥散,效果越明显;TiO2纳米粒子能够抑制多次回流过程中界面IMC的生长,且温度越低,Sn-xTiO2/Cu焊点中TiO2含量越高,抑制效果越强。
  2.温度升高,保温时间延长,界面IMC尺寸、保温动力学时间指数增大;回流次数增多,界面IMC尺寸增大但平均生长速率降低;冷却速率加快,界面IMC平均生长速率增大,最终界面IMC尺寸、动力学时间指数减小。
  3.多次回流过程中,界面气泡与IMC会产生交互生长作用:IMC的生长、溶解及热胀冷缩会改变气泡尺寸;气泡隔绝液态钎料与Cu基板间接触,阻碍Cu向液钎内扩散,反过来抑制IMC生长。
  4.Sn/Cu及Sn-0.7Cu/Cu焊点尺寸减小,液钎中Cu浓度增大,IMC层厚度增大。Sn-3.5Ag/Cu焊点受Cu浓度和Ag3Sn颗粒的双重作用,尺寸减小,IMC层厚度先增大后减小。

著录项

  • 作者

    马浩然;

  • 作者单位

    大连理工大学;

  • 授予单位 大连理工大学;
  • 学科 材料学
  • 授予学位 博士
  • 导师姓名 马海涛;
  • 年度 2018
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 中文
  • 中图分类 钎焊;
  • 关键词

    钎焊; 锌基焊点; 界面反应; 动力学;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号