声明
摘要
主要符号表
1 绪论
1.1三维电子封装技术
1.1.1三维电子封装技术简介
1.1.2三维电子封装技术的发展与挑战
1.2多次回流界面反应
1.2.1 经典界面反应机理概述
1.2.2界面反应的影响因素
1.2.3 多次回流界面反应研究现状及问题
1.3 同步辐射成像技术在界面反应研究中的应用
1.3.1 同步辐射成像技术原理
1.3.2同步辐射成像技术在钎焊界面反应中的应用
1.4本文主要研究思路与内容
2实验材料与方法
2.1实验材料
2.2样品制备
2.3实验设计及方法
2.3.1扫描电镜非原位测试
2.3.2同步辐射原位测试
2.4表征与分析
3不同成分Sn基焊点多次回流界面反应机理
3.1 Sn/Cu焊点多次回流界面反应
3.1.1 多次回流界面IMC生长行为
3.1.2多次回流各阶段界面IMC演变及影响因素
3.1.3多次回流界面IMC生长动力学
3.1.4多次回流界面IMC生长模型
3.2 Sn-xCu/Cu焊点多次回流界面反应
3.2.1焊点中的Cu浓度分布
3.2.2 Cu浓度对多次回流界面IMC形貌的影响
3.2.3 Cu浓度对多次回流界面IMC生长机理及动力学的影响
3.3 Sn-xAg/Cu焊点多次回流界面反应
3.3.1焊点中的Ag存在形式及浓度分布
3.3.2 Ag浓度对多次回流界面IMC形貌影响
3.3.3 Ag浓度对多次回流界面IMC生长机理及动力学影响
3.4 Sn-xTiO2/Cu焊点多次回流界面反应
3.4.2温度对TiO2抑制界面IMC生长效果的影响
3.5本章小结
4工艺参数作用下Sn/Cu焊点多次回流界面反应机理
4.1 回流温度对Sn/Cu界面IMC生长的作用
4.2保温时间及回流次数对Sn/Cu界面IMC生长的作用
4.3冷却速率对Sn/Cu界面IMC生长的作用
4.4本章小结
5含气泡Sn/Cu焊点多次回流界面反应机理
5.1首次回流过程界面气泡的生长演变
5.2多次回流过程界面气泡与IMC的交互生长
5.2.1界面气泡与IMC的生长演变
5.2.2界面气泡与IMC的交互生长机理
5.3本章小结
6不同尺寸Sn基焊点多次回流界面反应机理
6.1 Sn/Cu焊点多次回流的尺寸效应
6.1.1 Sn/Cu焊点尺寸效应现象
6.1.2 Sn/Cu焊点尺寸效应作用机理
6.2 Sn-0.7Cu/Cu焊点多次回流的尺寸效应
6.2.2 Sn-0.7Cu/Cu焊点尺寸效应作用机理
6.3 Sn-3.5Ag/Cu焊点多次回流的尺寸效应
6.3.1 Sn-3.5Ag/Cu焊点尺寸效应现象
6.3.2不同尺寸焊点中的Cu浓度分布
6.3.3 Sn-3.5Ag/Cu焊点尺寸效应作用机理
6.4本章小结
7结论与展望
7.1结论
7.2创新点
7.3展望
参考文献
攻读博士学位期间科研项目及科研成果
致谢
作者简介