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张猛;
苏州大学;
多晶硅; 薄膜晶体管; 自加热效应; 热载流子效应; 漏端脉冲应力; 器件退化;
机译:动态漏极应力下低温多晶硅薄膜晶体管的退化机理分析
机译:直流偏置应力下n型低温多晶硅薄膜晶体管退化趋势的回旋现象
机译:在同步电压应力下金属诱导的横向结晶n型多晶硅薄膜晶体管的退化
机译:脉冲偏置应力下P型多晶硅薄膜晶体管的退化
机译:多晶硅薄膜晶体管的研究
机译:基于多晶硅薄膜晶体管的有源像素成像阵列噪声性能的理论研究
机译:金属诱导的横向结晶n型多晶硅薄膜晶体管的应力功率依赖性自热退化
机译:人工噪声环境下多样化增强型车载无线电通信系统的计算机研究
机译:用于研究放置在弯曲应力下的U型试样的腐蚀行为(特别是应力腐蚀开裂)的测试装置和测试系统
机译:改变多晶硅层的方法和装置,制造多晶硅太阳能电池的方法以及制造多晶硅型薄膜晶体管的方法
机译:多晶硅型的薄膜晶体管,具有该薄膜晶体管的薄膜晶体管基板及其制造方法
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