典型蔬菜残留农药荧光光谱特性测量与分析技术研究

摘要

目前广泛或部分应用于农药残留检测方法有气、液相色谱和质谱等方法。虽然这些方法对农药残留检测已较为成熟，但对样品的前处理过程非常繁琐，而且对样品大都具有破坏性，在实际应用中，结果也不理想，难以满足对蔬菜中农药残留实现现场快速检测。如能在施用过农药的水果、蔬菜表面直接进行非破坏性的测量，那将是十分理想和有实用价值的工作。 根据目前国内外农残检测的研究现状，本文采用光谱分析技术，自己编制了图像处理软件对典型蔬菜残留农药光谱特性进行测量与分析，在一定程度上克服了以上方法的弊端，实现了对蔬菜表面直接非破坏性测试，有一定的实用价值，并为进一步的研究打下基础。本文的主要研究内容有： 1.用光谱分析技术对几种典型蔬菜叶片分析，从光谱角度确定正常和农药残留叶片的区别，这包括对荧光图像的采集及对物质的光谱特征分析与处理,以获得相关的数据。 2.为了更好地完成对实验数据分析，本人用VC6.0自行编制相应的图像处理软件，定制了位图处理的类及图像处理的相关的功能函数,对相关的数据整理分析，能直观明了地显示所要的结果，满足了实验所需。 3.从荧光光谱角度分析蔬菜上的残留农药随时间的变化情况。 4.通过研究不同农药浓度下蔬菜叶片荧光光谱变化，为探索日常生活中对农药残留蔬菜的合理处理方式提供方法和依据。 研究结果表明，本测试方法具有方便、快速的特点，对样品测量具有非破坏性，对某些典型样品的测量精度达到了实用要求。