卫星数字电视接收芯片低成本功能测试方案设计及实现

摘要

随着卫星数字电视技术的快速发展，卫星数字机顶盒内部的芯片集成度和复杂度不断提高，芯片的测试成本和测试难度不断增加。信道接收芯片作为机顶盒中的关键芯片之一，其测试成本已经超过芯片自身的设计和制造成本。为了解决这个问题，研究该芯片的低成本测试方案已经变得尤为重要。
　　本文针对卫星数字电视信道接收芯片低成本测试要求，通过研究某卫星数字电视信道接收芯片的整体框架，分析该芯片的内部模块的功能，并基于低端测试平台T6575测试系统，设计并实现该芯片功能测试的低成本方案，使之适应大生产的需要。
　　本论文的主要工作包括两部分：
　　(1)首先根据该芯片的技术指标要求，设计合理测试方案，实现4颗待测器件(DeviceUnder Test，DUT)并行测试。主要技术是使用一个信号发生源通过分流器分成4路信号，分别输入到4个调谐器中去产生中频信号给4 DUT，输出结果以向量文件的形式传送给ATE，ATE同时发送DUT的时钟和控制信号来读取TS码流作最终判断。该技术方案测试结果的处理可以自动化，可以在只使用一个信号源的情况下完成多个芯片的测试。缺点是还是需要昂贵的外部信号源。另外，由于测试方案的线路复杂、同步问题等，测试的稳定性较难控制。
　　(2)改进使用ATE上的扫描图形发生器(Scan Pattern Generator，SCPG)加上高速DAC IC来实现中频信号的发生，作为信号发生源(Signal Generator，SG)，取代外加的专用SG，解决系统功能测试项目，实现低成本的测试要求，从而降低测试成本。该技术的核心是利用T6575的SCPG存储空间比较大的优势来发生未经过滤波的“数字中频”信号，然后通过选择ADI公司的ADV7123作为高速DA转换器来实时转换，实现对类似数字电视芯片的信号输入。使用该技术方案可以实现输入电路高抗噪，保证信号的纯度。
　　最终的实际量产情况表明，本文所提出的测试方案是一种切实可行、经济有效、具有生产价值的低成本测试方案。对同类的芯片量产测试，这种基于低端测试机台的低成本测试方案也具有现实参考意义。