VCD（CD）系统中光栅设计与测试技术研究

摘要

光存储光学系统是我国信息化建设中发展迅速、前途广阔的新兴产业,本文在全面系统地分析光盘光学元件的基础上,对光存储系统关键光学元件——光盘光栅的设计、制造工艺及检测作了深入的研究.本文利用正弦型相位光栅的复振幅透射系数数学模型,应用衍射场的标量理论,推导建立了相位型光盘光栅的设计计算公式,并讨论了大规模生产光盘光栅的生产工艺;结合近年来迅速发展的CCD技术和计算机技术,共同研制出了一台符合用户精度要求的光栅性能测试仪.用VC++语言设计开发的测试软件采用模块化结构,并且在程序中实现了CCD采集数据的各种滤波方式,拥有良好的用户界面,完善的菜单,功能齐全,操作简洁,该仪器经验收合格,目前正在使用之中.本文由六章组成:第一章主要介绍课题的来源和意义,国内外研究过程、现状及发展方向.第二章对光盘光学元件产业化基础进行了分析.第三章重点介绍了光盘光栅的设计及制造工艺.第四章重点介绍光栅性能测试仪及测试软件.第五章给出了实验结果,并对数据进行了分析.第六章进行了总结,并对今后的发展提出了改进意见.

目录

文摘

英文文摘

独创性声明及学位论文版权使用授权书

1概述

1.1前言

1.2光盘光学元件产业化意义

1.3本文的主要研究内容及课题来源

2光盘光学元件产业化基础分析

2.1 VCD(CD)系统组成与分析

2.2典型光学元件

2.3产业化研究

3 VCD(CD)光栅设计与生产工艺

3.1常规光栅的技术要求与设计

3.2光盘光栅的特定要求

3.3光盘光栅设计

3.4光栅批量生产工艺

4光栅性能测试技术

4.1光栅能量分布测试仪

4.2系统关键元件CCD器件的选择

4.3系统测试软件

5测试结果及分析

5.1面阵CCD非线性度测试数据

5.2样品性能参数

5.3测试结果

6总结

致谢

参考文献

附录1攻读硕士学位期间发表论文目录

附录2部分程序代码

附录3验收证明