基于多项式符号代数的高级测试综合研究

摘要

本文在多项式符号代数(PSA)模型的基础上开展测试综合工作。多项式符号代数是近年来一个较为成熟的IC计算模型。在已有的工作中，有研究将这个计算模型应用到分支电路的表示、高级综合、形式验证等领域之中。尝试将多项式符号代数模型应用到芯片测试综合方面，用符号多项式代数来表示可测结构，运用多项式符号代数的表示和运算来研究可测性综合方法。 给出一种基于PSA的高级测试综合方法。首先进行基于PSA的电路高层描述，然后通过可测性插入技术得到电路的可测结构表示；通过可测性分析，提出一种基于PSA的集成的调度和分配方法；在此过程中还探讨了基于PSA的资源共享来达到减少硬件消耗的技术；直至获得最终的电路网表。本算法可以减少测试时间和硬件消耗，而且也提高了故障的覆盖率。实验结果表明本方法的有效性。

目录

文摘

英文文摘

声明

第1章绪论

1.1项目背景

1.2课题研究的意义

1.3课题研究的来源

1.4高级测试综合的现状

1.5本文主要工作

1.6论文组织

第2章基础知识

2.1高级综合基本回顾

2.1.1调度算法的分类

2.1.2列表调度算法

2.1.3 FDS算法

2.2最近十年新进展

2.2.1基于单目标的高级综合

2.2.2基于多目标的高级综合

2.2.3基于新模型的高级综合

2.2.4高级综合工具的发展

2.3测试问题的产生

2.4各种测试技术简介

2.4.1故障模型

2.4.2可测试性分析

2.4.3测试产生

2.4.4时延测试

2.4.5 IDDQ测试

2.4.6存储器测试

2.5可测试性设计技术

2.6本章小结

第3章高级测试综合研究进展

3.1简介

3.2基本定义

3.3基于ATPG的高级综合

3.4基于BIST的高级综合

3.5基于可测性的高级综合

3.5.1可测试性方案选择

3.5.2测试结构的插入

3.5.3电路验证

3.5.4测试处理的准备

3.6本章小结

第4章基于PSA的高级测试综合研究

4.1多项式符号代数理论

4.1.1几个基本概念

4.1.2 Grobner理论

4.2组合电路的多项式描述

4.3可测结构电路的多项式描述

4.4基于PSA的资源共享

4.4.1单变元多项式分解

4.4.2多变元多项式分解

4.5集成的调度/分配算法

4.6实验分析

4.7本章小结

结论

参考文献

攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果

致谢