声明
第1章 绪论
1.1 研究背景
1.2 偏振耦合测试及其发展
1.3 本文研究工作
第2章 典型偏振器件与偏振耦合
2.1 典型元件的偏振特性
2.2 偏振耦合测量技术
2.3 光程追踪法
2.4 本章小结
第3章 多耦合点的偏振特性分析
3.1 多耦合点模型与分析
3.2 光程追踪法应用
3.3 多耦合点实验研究
3.4 伪干涉峰鉴别方法
3.5 本章小结
第4章 偏振耦合测试系统的灵敏度研究
4.1 白光干涉测量噪声
4.2 基于PBS的偏振耦合实验研究
4.3 高芯片消光比Y波导应用研究
4.4 本章小结
第5章 偏振耦合测试系统的测量精度研究
5.1 光纤陀螺环检测方案
5.2 扫描延迟线的差分扫描方案
5.3 本章小结
第6章 Y波导偏振特性的双通道测量方法研究
6.1 Y波导偏振特性测试瓶颈
6.2 一种简单的双通道测量方案
6.3 改进的Y波导双通道测量系统
6.4 本章小结
结论
参考文献
攻读博士学位期间发表的论文和取得的科研成果
致谢